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CurveNDT CT成像系统(CR)

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CurveNDT CT成像系统(CR)
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灰度等级18bit

拥有的弯曲探测器

应用于 5 μm以上X射线源

超大探测面积，可支持1200mm工件

3D打印评估

封装磷光体成像板

可定制的扫描封装

拥有50万次循环周期

扫描分辨率50、100、150、200

微米可选

航空部件、汽车零部件检测
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